Recent developments in stress analysis by diffraction methods

New York, NY / Plenum Press (1993) [Fachzeitschriftenartikel]

Advances in x-ray analysis
Band: 35
Seite(n): 449-460

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Hauk, V.

Identifikationsnummern

  • REPORT NUMBER: RWTH-CONV-056774