Actual tasks of stress analysis by diffraction

New York, NY / Plenum Press (1998) [Fachzeitschriftenartikel]

Advances in x-ray analysis
Band: 39
Seite(n): 181-193

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Hauk, V.

Identifikationsnummern

  • REPORT NUMBER: RWTH-CONV-022934